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文献
J-GLOBAL ID：202202258052818949
整理番号：22A0913738
過去から未来までのCMOS信頼性:要求,傾向および予測方法の調査【JST・京大機械翻訳】
CMOS Reliability From Past to Future: A Survey of Requirements, Trends, and Prediction Methods
Hill Ian
(Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, BC, Canada)
,
Chanawala Parvez
(Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, BC, Canada)
,
Singh Rohit
(Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, BC, Canada)
,
Sheikholeslam S. Arash
(Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, BC, Canada)
,
Ivanov Andre
(Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, BC, Canada)
資料名：
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
(IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)
巻： 22 号： 1 ページ： 1-18 発行年： 2022年
JST資料番号： W1320A ISSN： 1530-4388 CODEN： ITDMA2 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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