文献
J-GLOBAL ID:202202258865579491
整理番号:22A0799224
非対称トンネルFETのサブ閾値特性の解析的モデリングとTCADシミュレーション【JST・京大機械翻訳】
Analytical modeling and TCAD simulation for subthreshold characteristics of asymmetric Tunnel FET
著者 (3件):
Talukdar Jagritee
(Department of Electronics and Communication Engineering, National Institute of Technology, Silchar, Assam, India)
,
Rawat Gopal
(Department of Electronics and Communication Engineering, National Institute of Technology, Hamirpur, Himachal Pradesh, India)
,
Mummaneni Kavicharan
(Department of Electronics and Communication Engineering, National Institute of Technology, Silchar, Assam, India)
資料名:
Materials Science in Semiconductor Processing
(Materials Science in Semiconductor Processing)
巻:
142
ページ:
Null
発行年:
2022年
JST資料番号:
W1055A
ISSN:
1369-8001
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)