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J-GLOBAL ID:202202261583290616   整理番号:22A0788393

NEMSデバイスのCD-SEMSを予測するための深層学習【JST・京大機械翻訳】

Deep Learning for Predicting CD-SEMS of NEMS Devices
著者 (13件):
Davaji Benyamin
(School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University,Ithaca,New York)
Cook Peter A
(School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University,Ithaca,New York)
Kor Bahar
(School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University,Ithaca,New York)
Luo Ziwang
(School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University,Ithaca,New York)
Chen Jiaxian
(School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University,Ithaca,New York)
Clark Jeremy
(Cornell University,Cornell Nanoscale Science and Technology Facility,Ithaca,New York)
Bordonaro Garry
(Cornell University,Cornell Nanoscale Science and Technology Facility,Ithaca,New York)
Genova Vincent
(Cornell University,Cornell Nanoscale Science and Technology Facility,Ithaca,New York)
Heuser Marco
(Hitachi High Technologies America, Inc)
Ayres Steve
(Hitachi High Technologies America, Inc)
Ober Christopher K
(School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University,Ithaca,New York)
Doerschuk Peter C
(School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University,Ithaca,New York)
Lal Amit
(School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University,Ithaca,New York)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2022  号: MEMS  ページ: 462-465  発行年: 2022年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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