文献
J-GLOBAL ID:202202262266005461
整理番号:22A1049645
ナノインデンター面積プロファイルを較正するためのインジウム表面のナノインデンテーション誘起塑性歪のAFMイメージング解析【JST・京大機械翻訳】
AFM imaging analysis of nanoindentation-induced plastic strain in indium surface for calibrating nanoindenters area profiles
著者 (2件):
Roa Simon
(Instituto Balseiro - Centro Atomico Bariloche, Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia, CONICET - CNEA, Av. E. Bustillo 9500, R8402AGP, San Carlos de Bariloche, Rio Negro, Argentina)
,
Sirena Martin
(Instituto Balseiro - Centro Atomico Bariloche, Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia, CONICET - CNEA, Av. E. Bustillo 9500, R8402AGP, San Carlos de Bariloche, Rio Negro, Argentina)
資料名:
Physica B. Condensed Matter
(Physica B. Condensed Matter)
巻:
633
ページ:
Null
発行年:
2022年
JST資料番号:
H0676B
ISSN:
0921-4526
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)