文献
J-GLOBAL ID:202202266816206618
整理番号:22A0630869
強化された挑戦応答空間を持つ高信頼性SRAMベースPUF【JST・京大機械翻訳】
A High Reliable SRAM-Based PUF With Enhanced Challenge-Response Space
著者 (2件):
Lu Lu
(Nanyang Technological University, Singapore)
,
Kim Tony Tae-Hyoung
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Nanyang Technological University, Singapore)
資料名:
IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs
(IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs)
巻:
69
号:
2
ページ:
589-593
発行年:
2022年
JST資料番号:
W0347A
ISSN:
1549-7747
CODEN:
ITCSFK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)