文献
J-GLOBAL ID:202202271195479094
整理番号:22A1163857
SoC試験とデバッギングのための安全なJTAGラッパ【JST・京大機械翻訳】
A Secure JTAG Wrapper for SoC Testing and Debugging
著者 (3件):
Lee Kuen-Jong
(Department of Electrical Engineering, National Cheng Kung University, Tainan, Taiwan)
,
Lu Zheng-Yao
(Department of Silicon Product Development, MediaTek Inc., Hsinchu, Taiwan)
,
Yeh Shih-Chun
(Department of Electrical Engineering, National Cheng Kung University, Tainan, Taiwan)
資料名:
IEEE Access
(IEEE Access)
巻:
10
ページ:
37603-37612
発行年:
2022年
JST資料番号:
W2422A
ISSN:
2169-3536
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)