文献
J-GLOBAL ID:202202271861221706
整理番号:22A0779140
シリコンアバランシェフォトダイオードの電荷収集効率に対する照射損傷の影響【JST・京大機械翻訳】
The Effect of Radiation Damage on the Charge Collection Efficiency of Silicon Avalanche Photodiodes
著者 (5件):
Zedric Robert M.
(Department of Nuclear Engineering, Center for Nuclear Security Science and Policy Initiatives, Texas A&M University, College Station, TX, USA)
,
Marianno Craig M.
(Department of Nuclear Engineering, Center for Nuclear Security Science and Policy Initiatives, Texas A&M University, College Station, TX, USA)
,
Chirayath Sunil S.
(Department of Nuclear Engineering, Center for Nuclear Security Science and Policy Initiatives, Texas A&M University, College Station, TX, USA)
,
Diawara Yacouba
(Spallation Neutron Source, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN, USA)
,
Darby Iain
(School of Physics and Astronomy, University of Glasgow, Glasgow, U.K)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
69
号:
2
ページ:
152-159
発行年:
2022年
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)