文献
J-GLOBAL ID:202202271929765938
整理番号:22A0854485
4ポート非対称デバイスのキャラクタリゼーションのための2ポートデエンベディング技術の適用性に関する経験的研究【JST・京大機械翻訳】
Empirical Study on the Applicability of Two-Port Deembedding Techniques for Characterization of Four-Port Asymmetric Devices
著者 (3件):
Maier Martin
(Technische Universitaet Braunschweig,Hans-Sommer-Stras&e 66,Braunschweig,Germany,D-38106)
,
Wojnowski Maciej
(Infineon Technologies AG,Am Campeon 1-15,Neubiberg,Germany,D-85579)
,
Issakov Vadim
(Technische Universitaet Braunschweig,Hans-Sommer-Stras&e 66,Braunschweig,Germany,D-38106)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2022
号:
SiRF
ページ:
85-87
発行年:
2022年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)