文献
J-GLOBAL ID:202202272521086200
整理番号:22A0430477
予測モデリングはバーンイン試験(BIT)に有効光を当てる:簡単なレビューと最近の拡張【JST・京大機械翻訳】
Predictive modeling sheds useful light on burn-in testing (BIT): Brief review and recent extension
著者 (4件):
Suhir E.
(Portland State University, Portland, OR, USA)
,
Suhir E.
(Technical University, Vienna, Austria)
,
Suhir E.
(James Cook University, Queensland, Australia)
,
Suhir E.
(ERS Co., USA)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
128
ページ:
Null
発行年:
2022年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)