前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:202202275425015046   整理番号:22A1100878

Al_2O_3キャッピング層を用いた電極の影響から遊離したHf_0.5Zr_0.5O_2薄膜の強誘電性【JST・京大機械翻訳】

Ferroelectricity of Hf0.5Zr0.5O2 Thin Films Free From the Influence of Electrodes by Using Al2O3 Capping Layers
著者 (6件):
Wan Jiaxian
(Key Laboratory of Artificial Micro- and Nano-Structures of Ministry of Education and the School of Physics and Technology, Wuhan University, Wuhan, China)
Chen Xue
(Key Laboratory of Artificial Micro- and Nano-Structures of Ministry of Education and the School of Physics and Technology, Wuhan University, Wuhan, China)
Ji Liwei
(Key Laboratory of Artificial Micro- and Nano-Structures of Ministry of Education and the School of Physics and Technology, Wuhan University, Wuhan, China)
Tu Zexin
(Key Laboratory of Artificial Micro- and Nano-Structures of Ministry of Education and the School of Physics and Technology, Wuhan University, Wuhan, China)
Wu Hao
(Key Laboratory of Artificial Micro- and Nano-Structures of Ministry of Education, the School of Physics and Technology, and the Hubei Key Laboratory of Nuclear Solid Physics, Wuhan University, Wuhan, China)
Liu Chang
(Key Laboratory of Artificial Micro- and Nano-Structures of Ministry of Education and the School of Physics and Technology, Wuhan University, Wuhan, China)

資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices  (IEEE Transactions on Electron Devices)

巻: 69  号:ページ: 1805-1810  発行年: 2022年 
JST資料番号: C0222A  ISSN: 0018-9383  CODEN: IETDAI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。