文献
J-GLOBAL ID:202202276706756481
整理番号:22A0773477
ウエハビンマップパターン分類のための重み付き多数性を持つアンサンブル畳込みニューラルネットワーク【JST・京大機械翻訳】
Ensemble convolutional neural networks with weighted majority for wafer bin map pattern classification
著者 (3件):
Hsu Chia-Yu
(Department of Industrial Engineering and Management, National Taipei University of Technology, Taipei, Taiwan)
,
Chien Ju-Chien
(Department of Computer Science, National Tsing Hua University, Hsinchu, Taiwan)
,
Chien Ju-Chien
(Artificial Intelligence for Intelligent Manufacturing Systems (AIMS) Research Center, Ministry of Science & Technology, Hsinchu, Taiwan)
資料名:
Journal of Intelligent Manufacturing
(Journal of Intelligent Manufacturing)
巻:
33
号:
3
ページ:
831-844
発行年:
2022年
JST資料番号:
W0196A
ISSN:
0956-5515
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)