文献
J-GLOBAL ID:202202276998336697
整理番号:22A0848038
非線形Tweedie指数分散プロセスに基づく劣化解析のためのランダム効果モデル【JST・京大機械翻訳】
Random-Effect Models for Degradation Analysis Based on Nonlinear Tweedie Exponential-Dispersion Processes
著者 (4件):
Chen Zhen
(Department of Industrial Engineering and Management, Shanghai Jiao Tong University, Shanghai, China)
,
Xia Tangbin
(Department of Industrial Engineering and Management, Shanghai Jiao Tong University, Shanghai, China)
,
Li Yaping
(College of Economics and Management, Nanjing Forestry University, Nanjing, China)
,
Pan Ershun
(Department of Industrial Engineering and Management, Shanghai Jiao Tong University, Shanghai, China)
資料名:
IEEE Transactions on Reliability
(IEEE Transactions on Reliability)
巻:
71
号:
1
ページ:
47-62
発行年:
2022年
JST資料番号:
C0448A
ISSN:
0018-9529
CODEN:
IERQAD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)