文献
J-GLOBAL ID:202202277077876079
整理番号:22A1161961
微細加工表面イオントラップ上のRF絶縁破壊のその場検出【JST・京大機械翻訳】
In situ detection of RF breakdown on microfabricated surface ion traps
著者 (7件):
Wilson Joshua M.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
,
Tilles Julia N.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
,
Haltli Raymond A.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
,
Ou Eric
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
,
Blain Matthew G.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
,
Clark Susan M.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
,
Revelle Melissa C.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
131
号:
13
ページ:
134401-134401-6
発行年:
2022年
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)