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文献
J-GLOBAL ID：202202277868950437
整理番号：22A0683723
加速試験データをモデル化するための半量子アプローチ【JST・京大機械翻訳】
A semi-quantum approach for modelling the accelerated test data
Lin Kunsong
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, 100191, China)
,
Lin Kunsong
(Science and Technology on Reliability and Environmental Engineering Laboratory, Beihang University, Beijing 100191, PR China)
,
Zhu Jiaxiao
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, 100191, China)
,
Zhu Jiaxiao
(Science and Technology on Reliability and Environmental Engineering Laboratory, Beihang University, Beijing 100191, PR China)
,
Chen Yunxia
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, 100191, China)
,
Chen Yunxia
(Science and Technology on Reliability and Environmental Engineering Laboratory, Beihang University, Beijing 100191, PR China)
資料名：
Applied Mathematical Modelling
(Applied Mathematical Modelling)
巻： 104 ページ： 474-485 発行年： 2022年
JST資料番号： H0624A ISSN： 0307-904X 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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