文献
J-GLOBAL ID:202202280502763326
整理番号:22A0462677
統計的表面粗さパラメータを用いたAl組み込みc-Si薄膜の濡れ性に関するミクロ形態学的研究【JST・京大機械翻訳】
Micro-morphological investigations on wettability of Al-incorporated c-Si thin films using statistical surface roughness parameters
著者 (6件):
Maity Gurupada
(Department of Pure and Applied Physics, Guru Ghasidas Vishwavidyalaya (A Central University), Bilaspur, India)
,
Yadav Ram Pratap
(Department of Physics, Deen Dayal Upadhyay Govt. PG College, Allahabad, India)
,
Ojha Sunil
(Inter University Accelerator Centre, New Delhi, India)
,
Singhal Rahul
(Department of Physics, Malaviya National Institute of Technology, Jaipur, India)
,
Kanjilal Dinakar
(Inter University Accelerator Centre, New Delhi, India)
,
Patel Shiv Poojan
(Department of Pure and Applied Physics, Guru Ghasidas Vishwavidyalaya (A Central University), Bilaspur, India)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
54
号:
2
ページ:
174-186
発行年:
2022年
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)