文献
J-GLOBAL ID:202202283699296271
整理番号:22A0329397
鉛故障のためのデバイス診断の解釈【JST・京大機械翻訳】
Interpreting device diagnostics for lead failure
著者 (6件):
Swerdlow Charles D.
(Smidt Heart Institute, Cedars-Sinai Medical Center, Los Angeles, California)
,
Ploux Sylvain
(IHU Liryc, Electrophysiology and Heart Modeling Institute, Fondation Bordeaux Universite, Bordeaux University Hospital (CHU), Cardio-Thoracic Unit, Bordeaux, France)
,
Poole Jeanne E.
(University of Washington School of Medicine, Seattle Washington,4 New Mexico Heart Institute (NMHI), Lovelace Medical Center, Albuquerque, New Mexico)
,
Nair Sandeep G.
(University of Minnesota, Minneapolis, Minnesota)
,
Himes Adam
(Medtronic PLC, Mounds View, Minnesota)
,
Ellenbogen Kenneth A.
(Division of Cardiology, VCU School of Medicine, Richmond, Virginia)
資料名:
Heart Rhythm
(Heart Rhythm)
巻:
19
号:
1
ページ:
154-164
発行年:
2022年
JST資料番号:
W3164A
ISSN:
1547-5271
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)