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文献
J-GLOBAL ID：202202285130745895
整理番号：22A0493011
回折線法を用いたナノ粒子のX線回折線プロフィルにおける広がりの除去【JST・京大機械翻訳】
Elimination of the broadening in X-ray diffraction lines profile for nanoparticles by using the analysis of diffraction lines method
Abbas Salma Bassem Abdel
(Department of Physics - College of Education (Ibn Al-Haitham) - University of Baghdad, Baghdad-Iraq)
,
Harbbi Khalid Hellal
(Department of Physics - College of Education (Ibn Al-Haitham) - University of Baghdad, Baghdad-Iraq)
資料名：
AIP Conference Proceedings
(AIP Conference Proceedings)
巻： 2386 号： 1 ページ： 080033-080033-12 発行年： 2022年
JST資料番号： D0071C ISSN： 0094-243X 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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