文献
J-GLOBAL ID:202202286022455214
整理番号:22A0857100
人工ニューラルネットワークを用いた共鳴トンネリングダイオードの劣化のモデリング【JST・京大機械翻訳】
Modeling of the Degradation of Resonant-Tunneling Diodes Using Artificial Neural Networks
著者 (3件):
Pchelintsev K. P.
(Bauman Moscow State Technical University, Moscow, Russia)
,
Vetrova N. A.
(Bauman Moscow State Technical University, Moscow, Russia)
,
Shashurin V. D.
(Bauman Moscow State Technical University, Moscow, Russia)
資料名:
Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques
(Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques)
巻:
16
号:
1
ページ:
82-85
発行年:
2022年
JST資料番号:
W4669A
ISSN:
1027-4510
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)