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文献
J-GLOBAL ID：202202286135536066
整理番号：22A0736702
μm薄線量測定層による深さ線量曲線と表面線量測定【JST・京大機械翻訳】
Depth dose curve and surface dose measurement with a μm thin dosimetric layer
Schuster Christiane
(Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems IKTS, Maria-Reiche-Strasse 2, 01109 Dresden, Germany)
,
Kuntz Florent
(Aerial, Parc D’innovation, 250 Rue Laurent Fries, 67400, Illkirch, France)
,
Cloetta Dominique
(Ebeam Technologies, COMET AG, Herrengasse 10, 3175, Flamatt, Switzerland)
,
Zeller Marcel
(Ebeam Technologies, COMET AG, Herrengasse 10, 3175, Flamatt, Switzerland)
,
Katzmann Julia
(Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems IKTS, Maria-Reiche-Strasse 2, 01109 Dresden, Germany)
,
Strasser Alain
(Aerial, Parc D’innovation, 250 Rue Laurent Fries, 67400, Illkirch, France)
,
Haertling Thomas
(Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems IKTS, Maria-Reiche-Strasse 2, 01109 Dresden, Germany)
,
Lavalle Marco
(Tetra Pak Packaging Solutions, Via Delfini 1, 41123, Modena, Italy)
資料名：
Radiation Physics and Chemistry
(Radiation Physics and Chemistry)
巻： 193 ページ： Null 発行年： 2022年
JST資料番号： D0627A ISSN： 0969-806X 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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