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文献
J-GLOBAL ID：202202286991117729
整理番号：22A0844333
動的および静的SRAM性能計量に対するNBTI劣化によるPVT変動の積分影響【JST・京大機械翻訳】
Integral impact of PVT variation with NBTI degradation on dynamic and static SRAM performance metrics
Picardo Siona Menezes
(Electrical and Electronics Engineering Department, Birla Institute of Technology and Science (BITS) Pilani - Dubai Campus, Dubai, United Arab Emirates)
,
Shaik Jani Babu
(Electrical Engineering Department, Shiv Nadar University, Great Noida, India)
,
Goel Nilesh
(Electrical and Electronics Engineering Department, Birla Institute of Technology and Science (BITS) Pilani - Dubai Campus, Dubai, United Arab Emirates)
,
Singhal Sonal
(Electrical Engineering Department, Shiv Nadar University, Great Noida, India)
資料名：
International Journal of Electronics
(International Journal of Electronics)
巻： 109 号： 2 ページ： 293-316 発行年： 2022年
JST資料番号： C0287B ISSN： 0020-7217 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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