文献
J-GLOBAL ID:202202286991117729
整理番号:22A0844333
動的および静的SRAM性能計量に対するNBTI劣化によるPVT変動の積分影響【JST・京大機械翻訳】
Integral impact of PVT variation with NBTI degradation on dynamic and static SRAM performance metrics
著者 (4件):
Picardo Siona Menezes
(Electrical and Electronics Engineering Department, Birla Institute of Technology and Science (BITS) Pilani - Dubai Campus, Dubai, United Arab Emirates)
,
Shaik Jani Babu
(Electrical Engineering Department, Shiv Nadar University, Great Noida, India)
,
Goel Nilesh
(Electrical and Electronics Engineering Department, Birla Institute of Technology and Science (BITS) Pilani - Dubai Campus, Dubai, United Arab Emirates)
,
Singhal Sonal
(Electrical Engineering Department, Shiv Nadar University, Great Noida, India)
資料名:
International Journal of Electronics
(International Journal of Electronics)
巻:
109
号:
2
ページ:
293-316
発行年:
2022年
JST資料番号:
C0287B
ISSN:
0020-7217
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)