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J-GLOBAL ID:202202288820555022   整理番号:22A0432054

一次元および二次元結晶性高分子の微細構造キャラクタリゼーションのための同軸μSAXS/POM同時測定【JST・京大機械翻訳】

Coaxial μSAXS/POM simultaneous measurement for microstructural characterization of one-dimensional and two-dimensional crystalline polymer
著者 (10件):
Fan Yunyi
(Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201800, China)
Fan Yunyi
(Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Advanced Research Institute, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201204, China)
Fan Yunyi
(University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, China)
Liu Guangfeng
(Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Advanced Research Institute, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201204, China)
Miao Xiaran
(Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201800, China)
Miao Xiaran
(Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Advanced Research Institute, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201204, China)
Miao Xiaran
(University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, China)
Bian Fenggang
(Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201800, China)
Bian Fenggang
(Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Advanced Research Institute, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201204, China)
Bian Fenggang
(University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, China)

資料名:
Polymer Testing  (Polymer Testing)

巻: 106  ページ: Null  発行年: 2022年 
JST資料番号: C0752B  ISSN: 0142-9418  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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