ZnSSe,ZnMgSSeエピタキシャル膜の結晶欠陥評価

文献

J-GLOBAL ID：200902116129534419 整理番号：96A0435297

Defect studies in ZnSSe and ZnMgSSe by etching and TEM.

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=96A0435297&COPY=1") }}
このテーマを更に深掘りする（JDreamⅢへ） {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=96A0435297&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=Y0054A") }}

著者 (6件)： , , , , ,
資料名：
巻： 43rd 号： 1 ページ： 292 発行年： 1996年03月
JST資料番号： Y0054A 資料種別：会議録 (C)
発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

, ,

前のページに戻る