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J-GLOBAL ID：200902134216406522   整理番号：96A0879444

a-Si:Hと絶縁体界面欠陥のPDSとESRによる評価

Measurements of a-Si:H/insulator interface by PDS and ESR.

著者 (3件)： 梅津郁朗 (甲南大 理) ,  伊藤勇 (東京理大 基礎工) ,  前田敬二 (東京理大 基礎工)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 57th  号： 2  ページ： 751  発行年： 1996年09月 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (6件)： Si ,  絶縁体 ,  界面欠陥 ,  PDS ,  ESR ,  評価