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J-GLOBAL ID：200902177480792067   整理番号：96A0948397

ZnSe系エピタキシャル膜の表面ラフネスと組成変調 (2)

Surface Roughning and Composition Modulation on ZnSe related Films. (2).

著者 (6件)： 冨谷茂隆 (ソニー 中研) ,  塚本弘範 (ソニー 中研) ,  伊藤哲 (ソニー 中研) ,  中野一志 (ソニー 中研) ,  森田悦男 (ソニー 中研) ,  石橋晃 (ソニー 中研)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 57th  号： 1  ページ： 183  発行年： 1996年09月 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (5件)： ZnSe ,  エピタキシャル膜 ,  表面ラフネス ,  組成 ,  変調