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J-GLOBAL ID：200902211842086399   整理番号：09A1003992

不斉度計測のための偏光分析CMOSイメージセンサの高精度化

著者 (5件)： 下畠弘也 (奈良先端科学技術大学院大) ,  野田俊彦 (奈良先端科学技術大学院大) ,  笹川清隆 (奈良先端科学技術大学院大) ,  徳田崇 (奈良先端科学技術大学院大) ,  太田淳 (奈良先端科学技術大学院大)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 70th  号： 3  ページ： 1201  発行年： 2009年09月08日 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *カイラル異常 ,  光学的測定 ,  イメージセンサ ,  分析機器 ,  *旋光性 ,  *偏光測定 ,  *CMOSイメージセンサ ,  *マイクロ総合分析システム
準シソーラス用語： *MU-TAS ,  高精度化

分類 (2件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 計測 ,  偏光分析 ,  CMOSイメージセンサ ,  高精度化