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J-GLOBAL ID：200902213723460951   整理番号：08A0944592

金属探針に発生する近接場光によるアゾベンゼン分子薄膜の光加工過程の局所観測

著者 (10件)： 今井祐輔 (新潟大 大学院) ,  大平泰生 (新潟大 大学院) ,  大平泰生 (超域研究機構) ,  馬場暁 (超域研究機構) ,  新保一成 (新潟大 大学院) ,  新保一成 (超域研究機構) ,  加藤景三 (新潟大 大学院) ,  加藤景三 (超域研究機構) ,  金子双男 (新潟大 大学院) ,  金子双男 (超域研究機構)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 69th  号： 3  ページ： 1100  発行年： 2008年09月02日 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *高分子膜 ,  *微細加工 ,  エバネセント波 ,  *光照射 ,  顕微鏡観察 ,  プローブ ,  格子構造 ,  芳香族化合物 ,  アゾ化合物 ,  *近接場光 ,  表面レリーフ

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

物質索引 (1件)： アゾベンゼン

タイトルに関連する用語 (7件)： 探針 ,  近接場光 ,  アゾベンゼン ,  分子 ,  薄膜 ,  過程 ,  観測