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J-GLOBAL ID：200902215759292055   整理番号：08A1006702

不可視情報のイメージング最前線 偏光検出CMOSイメージセンサ

著者 (2件)： 太田淳 (奈良先端科学技術大学院大) ,  徳田崇 (奈良先端科学技術大学院大)
資料名： Optronics  (Optronics)
号： 322  ページ： 153-159  発行年： 2008年10月10日 
JST資料番号： Y0019A  ISSN： 0286-9659  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 偏光機能集積型CMOSイメージセンサの仕様と特性について解説を行った。偏光特性は,検査や画像認識から化学合成まで様々の分野において用いられる不可視の物理量であり,そのイメージングは極めて有用である。通常偏光測定にはバルク光学素子である偏光子などを用いるが,最近イメージセンサと偏光子を一体化した偏光イメージセンサの研究が盛んに行われている。そこで偏光イメージセンサの最近の動向を概観した後,偏光検出機能集積化型CMOSイメージセンサについて,1)試作フォトセンサによる偏光分析機能の実証,2)アレイ化チップデザイン,として詳細に解説した。

シソーラス用語： 情報 ,  状態 ,  検出 ,  機能 ,  *偏光子 ,  *イメージセンサ ,  偏光測定 ,  *CMOSイメージセンサ
準シソーラス用語： イメージング ,  最前線 ,  集積化 ,  不可視情報 ,  偏光機能 ,  *偏光検出 ,  偏光特性

分類 (2件)： 計測機器一般  (AD02000X) ,  光学情報処理  (BD03060T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 不可視情報 ,  イメージング ,  偏光 ,  CMOSイメージセンサ