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J-GLOBAL ID:200902234806284915   整理番号:09A0817777

標準CMOSプロセスを用いたμTAS向け偏光検出イメージセンサ

Polarization-Analyzing Image Sensor for μTAS Based on Standard CMOS Technology
著者 (4件):
資料名:
巻: 129  号:ページ: 234-241 (J-STAGE)  発行年: 2009年 
JST資料番号: L3098A  ISSN: 1341-8939  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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現在,マイクロ流路の実用化に向けた各種の技術開発が進められている。著者らは,各種の計測機能を搭載した微細なCMOSマルチファンクショナルチップをμTASに集積化し,μTAS内のマイクロ流路を流れる溶液に対して計測を行う技術の実現に取り組んでいる。本研究では,標準CMOSプロセスによって実現可能な,外部偏光子なしで入射光の偏光を検出するフォトセンサ技術を提案・実証する。今回,035μm標準CMOSプロセスでの偏光計測画素を設計した。そして,入射偏光の回転と2画素計測を組み合わせた偏光角の変化量の測定(旋光測定など)では精度0.1度を実現することができた。さらに,イメージセンサアーキテクチャとの組み合わせにより,180個の1度ステップの異なる偏光子を搭載した画素の計測結果から,入射光の偏光角の絶対値を0.04度という高い精度で計測することに成功した。
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分類 (2件):
分類
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偏光測定と偏光計  ,  その他の固体デバイス 
タイトルに関連する用語 (5件):
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