文献

J-GLOBAL ID：200902236396230661   整理番号：08A0159617

偏光イメージング用CMOSイメージセンサの基礎検討

preliminary analysis of CMOS image sensor for polarization imaging

著者 (5件)： 佐藤翔 (奈良先端科学技術大学院大) ,  徳田崇 (奈良先端科学技術大学院大) ,  香川景一郎 (奈良先端科学技術大学院大) ,  布下正宏 (奈良先端科学技術大学院大) ,  太田淳 (奈良先端科学技術大学院大)
資料名： 映像情報メディア学会技術報告
巻： 31  号： 53(IST2007 94-99)  ページ： 19-22  発行年： 2007年11月12日 
JST資料番号： S0209A  ISSN： 1342-6893  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： Micro TASへの搭載を目指した偏光計測用CMOSマイクロセンサを提案する。本研究ではマイクロ流路中の化学種の不斉度計測を目指し,フォトセンサアレイ上にオンチップメタルグリッド偏光子を搭載したCMOSセンサの設計,および動作実証を目的とした。水平,垂直グリッドおよびグリッドなしの3種類のメタルグリッド構造を持つフォトセンサを配置し,オフチップ偏光子なしで入射偏光の計測に成功した。また,旋光度計測システムの構築に取り組み,光学活性物質の旋光度検出に成功した。(著者抄録)

シソーラス用語： *イメージセンサ ,  *CMOS構造 ,  偏光 ,  偏光子 ,  チャネル ,  化学種 ,  センサアレイ ,  格子 ,  旋光性 ,  計測システム ,  *画像処理システム ,  マイクロチャネル ,  *CMOSイメージセンサ ,  *MOS構造
準シソーラス用語： マイクロ流路 ,  旋光度 ,  入射偏光

分類 (3件)： 幾何学的・力学的量の計測一般  (AD05010D) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 偏光 ,  イメージング ,  CMOSイメージセンサ ,  基礎