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J-GLOBAL ID：200902251182543483   整理番号：08A0968442

低温超音波計測によるシリコン原子空孔の物性研究と産業応用

著者 (10件)： 後藤輝孝 (新潟大 自然) ,  金田寛 (新潟大 物質量子科セ) ,  渡辺肇 (新潟大 自然) ,  永井勇太 (新潟大 自然) ,  馬場正太郎 (新潟大 自然) ,  赤津光洋 (新潟大 自然) ,  根本祐一 (新潟大 自然) ,  石井勳 (新潟大 自然) ,  三本啓介 (新潟大 自然) ,  中村慎太郎 (東北大 金属材料研)
資料名： 日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)
巻： 63  号： 2 第4分冊  ページ： 874  発行年： 2008年08月25日 
JST資料番号： S0671B  ISSN： 1342-8349  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 半導体 ,  *ケイ素 ,  Czochralski法 ,  単結晶 ,  *空孔欠陥 ,  *超音波応用計測 ,  弾性係数 ,  ソフトモード ,  *原子空孔

分類 (2件)： 半導体の格子欠陥  (BK12040Q) ,  音響測定  (BB03040R)

タイトルに関連する用語 (7件)： 低温 ,  超音波計測 ,  シリコン ,  原子空孔 ,  物性 ,  研究 ,  産業応用