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J-GLOBAL ID：200902287773873703   整理番号：09A0594424

断面構造の異なるNb₃Sn素線のCIC導体内における超電導特性の評価

著者 (6件)： 梶谷秀樹 (早稲田大) ,  植田浩史 (早稲田大) ,  石山敦士 (早稲田大) ,  村上陽之 (日本原子力研究開発機構) ,  小泉徳潔 (日本原子力研究開発機構) ,  奥野清 (日本原子力研究開発機構)
資料名： 低温工学・超電導学会講演概要集  (低温工学・超電導学会研究発表会講演概要集)
巻： 80th  ページ： 105  発行年： 2009年05月13日 
JST資料番号： G0564B  ISSN： 0919-5998  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： Nb3Sn/CIC導体を用いたモデル・コイル試験の結果,電磁力による素線の局所的な曲げ変形が原因と見られる特性劣化が確認された。そこで,Nb3Sn素線の曲げ変形に対する臨界電流特性を調べるため,分布定数回路を用いた数値解析コードを開発し,これまでに運転条件や素線構造の違いが特性劣化に与える影響について評価を行った。今回はバリア層の素材や素線断面積,銅比など断面構造の異なる素線で実験と解析の比較を行い本解析コードの有用性を確認するとともに,これらの違いがどのように素線の臨界電流特性に影響するのか調査したので報告する。(著者抄録)

シソーラス用語： 超伝導コイル ,  ニオブ化合物 ,  スズ化合物 ,  *超伝導線 ,  *導体 ,  *臨界電流 ,  被覆層
準シソーラス用語： *CIC導体 ,  障壁層

分類 (1件)： 超伝導材料  (BM04041W)

引用文献 (2件)：

• KOIZUMI, N. Physica C. 2007, 463-465, 1319-1326
• MURAKAMI, H. IEEj Trans. PE. 2008, 128, 6, 853-859

タイトルに関連する用語 (4件)： Nb3Sn ,  CIC導体 ,  超電導特性 ,  評価