特許
J-GLOBAL ID:200903009310761551

暗視野熱レンズ顕微鏡分析方法とその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西澤 利夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-168773
公開番号(公開出願番号):特開2000-356746
出願日: 1999年06月15日
公開日(公表日): 2000年12月26日
要約:
【要約】【課題】 高い分解能による超微量分析が可能となる分析光学顕微鏡を提供する。【解決手段】 光学顕微鏡に励起光(A)と検出光(B)を入射し、励起光が試料(10)中に照射されることにより形成される熱レンズに検出光を入射し、熱レンズによる検出光の拡散を測定し試料中の物質を検出を行う熱レンズ顕微鏡であって、暗視野照明することにより、検出光の散乱光のみを抽出する。
請求項(抜粋):
光学顕微鏡において、励起光を入射し、励起光が試料中に照射されることにより形成される熱レンズに検出光を入射し、熱レンズによる試料透過後の検出光の拡散を測定することにより試料中の物質の検出を行う熱レンズ顕微鏡を用いた分析方法であって、暗視野照明により検出光の散乱光のみを抽出することを特徴とする暗視野熱レンズ顕微鏡分析方法。
IPC (3件):
G02B 21/00 ,  G01N 25/16 ,  G02B 21/10
FI (3件):
G02B 21/00 ,  G01N 25/16 C ,  G02B 21/10
Fターム (21件):
2G040AA02 ,  2G040AB07 ,  2G040BA24 ,  2G040BA27 ,  2G040CA02 ,  2G040CA12 ,  2G040CA23 ,  2G040EA06 ,  2G040EA11 ,  2G040EB02 ,  2H052AA09 ,  2H052AC04 ,  2H052AC05 ,  2H052AC06 ,  2H052AC14 ,  2H052AC17 ,  2H052AC18 ,  2H052AC27 ,  2H052AC29 ,  2H052AC34 ,  2H052AF06

前のページに戻る