特許
J-GLOBAL ID：200903076535215741
光触媒薄膜の活性測定方法及び活性測定フィルム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
下田 容一郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-348073
公開番号（公開出願番号）：特開平7-191011
出願日： 1993年12月24日
公開日（公表日）： 1995年07月28日
要約：
【要約】【目的】 簡単な方法によりタイル等の表面に形成した光触媒薄膜の活性を評価する。【構成】 紫外線を光触媒薄膜2に照射すると、酸化反応と還元反応が同時に起こり、還元反応によって生じる水酸イオンによってハロゲン化アルカリ水溶液3のpHが上昇する。そこで、紫外線照射の前後におけるpHの差でもって活性が評価できる。
請求項（抜粋）：
基板表面に形成したTiO2を主体とする光触媒薄膜の表面にヨウ化カリウム或いは塩化カリウム等のハロゲン化アルカリ水溶液を滴下し、次いで、滴下したハロゲン化アルカリ水溶液に所定時間紫外線を照射し、照射前のハロゲン化アルカリ水溶液のpHと照射後のpHとの差から光触媒薄膜の活性の大きさを判断するようにしたことを特徴とする光触媒薄膜の活性測定方法。
IPC (3件)：
G01N 31/00
, A61L 9/01
, G01N 31/16
