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J-GLOBAL ID：201002244788838556   整理番号：10A0830438

65nm CMOSプロセスでの偏光計測イメージセンサの開発

著者 (5件)： 宍戸三四郎 (奈良先端科学技術大学院大) ,  野田俊彦 (奈良先端科学技術大学院大) ,  笹川清隆 (奈良先端科学技術大学院大) ,  徳田崇 (奈良先端科学技術大学院大) ,  太田淳 (奈良先端科学技術大学院大)
資料名： 映像情報メディア学会年次大会講演予稿集(CD-ROM)  (Proceedings of the ITE Annual Convention)
巻： 2010  ページ： ROMBUNNO.5-11  発行年： 2010年08月02日 
JST資料番号： S0530B  ISSN： 1880-6961  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *CMOS構造 ,  *偏光測定 ,  *イメージセンサ ,  分析機器 ,  画素 ,  PWM【信号】 ,  偏光子 ,  マイクロ総合分析システム ,  *MOS構造
準シソーラス用語： ラボオンチップ ,  MU-TAS

分類 (2件)： 撮像・録画装置  (ND12032E) ,  偏光測定と偏光計  (BD07050K)

タイトルに関連する用語 (5件)： CMOSプロセス ,  偏光 ,  計測 ,  イメージセンサ ,  開発