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J-GLOBAL ID：201002268106969910   整理番号：10A0136025

高角度暗視野走査型透過電子顕微鏡を使用する電子トモグラフィーによって観測されたFePdナノ粒子の三次元形状と分布

Three-dimensional shapes and distribution of FePd nanoparticles observed by electron tomography using high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy

著者 (3件)： SATO Kazuhisa (Inst. for Materials Res., Tohoku Univ., Sendai 980-8577, JPN) ,  AOYAGI Kenta (Dep. of Materials Sci., Tohoku Univ., Sendai 980-8579, JPN) ,  KONNO Toyohiko J. (Inst. for Materials Res., Tohoku Univ., Sendai 980-8577, JPN)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 107  号： 2  ページ： 024304  発行年： 2010年01月15日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 筆者らは電子ビーム蒸着や蒸着後焼なましによって準備され,高角度暗視野走査型透過電子顕微鏡によって得られた原子番号明暗差を使用する一軸傾斜トモグラフィーによってFePdナノ粒子の三次元形状や分布を研究した。粒子のサイズ,形状そして位置が,同時反復再構成技術(SIRT)によってだけでなく,重み付け逆投影法(WBP)によって再構成された。筆者らはまた,傾斜系オリジナルデータセットの簡単な外挿によって粒子サイズを評価し,それは非常に強力であることが証明された。再構成に対する二つのアルゴリズムの結果が外挿法によって得られたものと電子ホログラフィーによって独立に報告されたものとが定量的に比較された。WBPによって再構成された明暗度マップは少量の点状アーチファクトを含んでおり,それはSIRTによる結果では存在しない,そしてWBPによって得られた粒子表面はSIRTによるものよりも粗いことが見出された。一方,筆者らは,WBPはSIRTがオリジナルデータセットにおける「失われている楔」の存在に多分依存するよりもz方向での粒子サイズについてより良い評価を生み出すことを示す。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *透過型走査電子顕微鏡 ,  *トモグラフィー ,  *ナノ粒子 ,  形態 ,  *画像再構成 ,  *鉄合金 ,  *パラジウム合金 ,  粒度 ,  粒度分布 ,  三次元形状 ,  HAADF-STEM
準シソーラス用語： 高角度暗視野走査型透過電子顕微鏡 ,  電子トモグラフィー ,  逆投影法 ,  粒子サイズ ,  粒子サイズ分布

分類 (1件)： 金属の結晶構造  (BK06000V)

タイトルに関連する用語 (6件)： 高角度暗視野走査型透過電子顕微鏡 ,  電子トモグラフィー ,  観測 ,  ナノ粒子 ,  三次元形状 ,  分布