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J-GLOBAL ID：201102211816491607   整理番号：11A1271028

65nmプロセスによる偏光計測イメージセンサの機能向上

著者 (7件)： 安藤圭祐 (奈良先端科学技術大学院大) ,  松岡均 (奈良先端科学技術大学院大) ,  小田有城 (奈良先端科学技術大学院大) ,  野田俊彦 (奈良先端科学技術大学院大) ,  笹川清隆 (奈良先端科学技術大学院大) ,  徳田崇 (奈良先端科学技術大学院大) ,  太田淳 (奈良先端科学技術大学院大)
資料名： 映像情報メディア学会年次大会講演予稿集(CD-ROM)  (Proceedings of the ITE Annual Convention)
巻： 2011  ページ： ROMBUNNO.14-8  発行年： 2011年08月01日 
JST資料番号： S0530B  ISSN： 1880-6961  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 偏光 ,  *偏光測定 ,  *イメージセンサ ,  CMOS構造 ,  画素 ,  システム設計 ,  *CMOSイメージセンサ ,  MOS構造

分類 (1件)： 撮像・録画装置  (ND12032E)

タイトルに関連する用語 (4件)： プロセス ,  偏光 ,  計測 ,  イメージセンサ