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J-GLOBAL ID:201102214579551348   整理番号:11A1295338

偏光分析CMOSイメージセンサの高精度化とin situ不斉計測への応用

Development of polarization-analyzing CMOS image sensor and application to real-time chiral analysis
著者 (8件):
資料名:
巻: 35  号: 19(IST2011 17-32)  ページ: 21-24  発行年: 2011年05月20日 
JST資料番号: S0209A  ISSN: 1342-6893  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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我々はマイクロリアクタヘの偏光分析CMOSイメージセンサの導入を提案している。CMOSプロセスの金属配線層を利用したオンチップ偏光子を搭載したイメージセンサにおいて,さらなる高精度な偏光計測を実現するため9組相当分の偏光計測画素アレイを有するセンサを開発し,約1桁のノイズレベル低減を達成した。またこのセンサをコアとする流路挿入型の不斉計測系を構築し,混合比の異なるメントール溶液を用いてin situでの偏光角計測に成功した。(著者抄録)
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分類 (3件):
分類
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図形・画像処理一般  ,  偏光,複屈折,光学回転  ,  計測機器一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
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