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J-GLOBAL ID：201102271433371813   整理番号：11A1620692

硬X線光電子分光によりLi_1-xCoO₂電極に形成される界面膜の厚さ評価

Thickness estimation of interface films formed on Li_1-x CoO₂ electrodes by hard X-ray photoelectron spectroscopy

著者 (15件)： TAKANASHI Yu (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN) ,  ORIKASA Yuki (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN) ,  MOGI Masato (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN) ,  OISHI Masatsugu (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN) ,  MURAYAMA Haruno (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN) ,  SATO Kenji (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN) ,  YAMASHIGE Hisao (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN) ,  TAKAMATSU Daiko (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN) ,  FUJIMOTO Takahiro (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN) ,  TANIDA Hajime (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN) ,  ARAI Hajime (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN) ,  OHTA Toshiaki (SR Center, Ritsumeikan Univ., 1-1-1 Noji-Higashi, Kusatsu, Shiga 525-8577, JPN) ,  MATSUBARA Eiichiro (Dep. of Materials Sci. & Engineering, Kyoto Univ., Yoshida-Nihonmatsu-cho, Sakyo-ku, Kyoto 606-8501, JPN) ,  UCHIMOTO Yoshiharu (Graduate School of Human and Environmental Studies, Kyoto Univ., Yoshida-Nihonmatsu-cho, Sakyo-ku, Kyoto 606-8501, JPN) ,  OGUMI Zempachi (Center for Advanced Sci. and Innovation, Uji Campus Gokashou, 611-0011, JPN)
資料名： Journal of Power Sources  (Journal of Power Sources)
巻： 196  号： 24  ページ： 10679-10685  発行年： 2011年12月15日 
JST資料番号： B0703B  ISSN： 0378-7753  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Li_1-xCoO₂電極に形成される固体電解質界面(SEI)膜を,硬X線光電子分光(HX-PES)により観察した。本稿は,理論計算とHX-PESを使用し,膜厚評価に対し特に焦点を当てた。計算の妥当性は,モデルSEI膜を用いて実験により証明した。LiCoO₂複合材料電極上に形成される自然膜は,厚さ5nmのLiFであると評価された。60°Cでのこの電極の貯蔵は,炭酸塩化合物の形成により相当な膜成長(30-40nm)をもたらした。またLiCoO₂電極の充電時のSEI膜変化についても試験した。膜中の主要成分は,充電中に厚さは減少するが,LiFまたはある種のホタル石であると推測された。またSEI形成メカニズムについても明らかにした。Copyright 2011 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 硬X線 ,  光電子分光法 ,  *固体電解質 ,  膜厚 ,  電極 ,  充電 ,  蛍石 ,  フッ化リチウム ,  *リチウムイオン電池 ,  電解質 ,  複合電極 ,  電解質膜

分類 (1件)： 二次電池  (YB04030K)

タイトルに関連する用語 (3件)： 硬X線光電子分光 ,  界面 ,  評価