適応標本化装置および適応標本化プログラム

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：磯野道造 , 多田悦夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-021137
公開番号（公開出願番号）：特開2011-160261
出願日： 2010年02月02日
公開日（公表日）： 2011年08月18日
要約：

【課題】入力信号のフレームを標本化する場合に、入力信号の性質に応じた不等間隔で標本化を行う技術を提供する。【解決手段】適応標本化装置1Aは、フレーム記憶手段10と、フレームに対して、標本点数を減らした複数の異なる標本化間隔で標本化して縮小信号とし、この縮小信号群を出力する階層化信号縮小手段20と、この各縮小信号を入力信号と同じ標本化間隔に戻して、フレームとの誤差をブロックごとに定量化し誤差信号として出力する階層化誤差演算手段30と、フレームの各ブロックに対して適用する標本化間隔の割り当て方である標本化パターンを複数記憶する標本化パターンデータベース50と、各誤差信号と、標本化パターンとに基づき、誤差を最適化する標本化パターンを探索する最適化手段70と、この最適化手段が求めた標本化パターンに基づき、入力信号のフレームを標本化し、出力信号として出力する標本選択配置手段80と、を備える。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

入力信号の一定区間であるフレームを複数のブロックに分割して、前記ブロックごとに異なる又は同一の標本化間隔で標本化を行う適応標本化装置であって、前記フレームに対して、標本点数を減らした複数の異なる標本化間隔で標本化して縮小信号とし、この縮小信号群を出力する階層化信号縮小手段と、この各縮小信号を前記入力信号と同じ標本化間隔に戻して拡大信号とし、この各拡大信号と前記フレームとの誤差を前記ブロックごとに定量化し誤差信号として出力する階層化誤差演算手段と、前記フレームを前記複数のブロックに分割した際に、前記フレームの各ブロックに対して適用する前記標本化間隔の割り当て方である標本化パターンを複数記憶する標本化パターンデータベースと、前記階層化誤差演算手段が出力した各誤差信号と、前記標本化パターンとに基づき、前記誤差を最適化する前記標本化パターンを探索する最適化手段と、この最適化手段が求めた標本化パターンに基づき、前記入力信号の前記フレームを標本化し、出力信号として出力する標本選択配置手段と、を備えることを特徴とする適応標本化装置。

IPC (4件)：

H03M 7/30 , H03K 17/00 , H04N 7/26 , G10L 19/00

FI (5件)：

H03M7/30 Z , H03K17/00 D , H04N7/13 Z , G10L19/00 220G , G10L19/00 220Z

Fターム (21件)：

5C159LB02 , 5C159TA06 , 5C159TA07 , 5C159TB08 , 5C159TC08 , 5C159UA02 , 5J055AX37 , 5J055BX17 , 5J055CX24 , 5J055DX01 , 5J055EX02 , 5J055EZ12 , 5J055EZ29 , 5J055FX18 , 5J055GX02 , 5J055GX03 , 5J055GX05 , 5J064BB01 , 5J064BC15 , 5J064BC18 , 5J064BC26

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開昭63-133779
特開昭63-157590
特開平4-268663

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