特許
J-GLOBAL ID:201103094173617052
光触媒薄膜の活性測定方法及び活性測定フィルム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小山 有
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-055128
公開番号(公開出願番号):特開2000-227429
特許番号:特許第3555540号
出願日: 2000年03月01日
公開日(公表日): 2000年08月15日
請求項(抜粋):
【請求項1】基板表面に形成したTiO2を主体とする光触媒薄膜の表面にヨウ化カリウム或いは塩化カリウム等のハロゲン化アルカリ水溶液を滴下し、次いで、滴下したハロゲン化アルカリ水溶液に所定時間紫外線を照射し、照射前のハロゲン化アルカリ水溶液のpHと照射後のpHとの差から光触媒薄膜の活性の大きさを判断するようにしたことを特徴とする光触媒薄膜の活性測定方法。
IPC (5件):
G01N 33/00
, A61L 9/01
, G01N 21/78
, G01N 31/16
, G01N 31/10
FI (5件):
G01N 33/00 A
, A61L 9/01 E
, G01N 21/78 A
, G01N 31/16 Z
, G01N 31/10
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