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J-GLOBAL ID：201202210372264634   整理番号：12A0991591

偏光分析CMOSイメージセンサによるマイクロ化学システムin situ不斉計測デバイス

In situ chiral analysis device with polarization-analyzing CMOS image sensor for microchemical systems

著者 (11件)： 若間範充 (奈良先端科学技術大学院大) ,  松岡均 (奈良先端科学技術大学院大) ,  寺尾公維 (奈良先端科学技術大学院大) ,  芝田実希子 (奈良先端科学技術大学院大) ,  立川展也 (奈良先端科学技術大学院大) ,  野田俊彦 (奈良先端科学技術大学院大) ,  笹川清隆 (奈良先端科学技術大学院大) ,  徳田崇 (奈良先端科学技術大学院大) ,  西山靖浩 (奈良先端科学技術大学院大) ,  垣内喜代三 (奈良先端科学技術大学院大) ,  太田淳 (奈良先端科学技術大学院大)
資料名： 電気学会バイオ・マイクロシステム研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： BMS-12  号： 8-17  ページ： 11-14  発行年： 2012年06月12日 
JST資料番号： L6187A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 化学反応の高速化・高効率化を期待できるマイクロリアクタ技術での9セットの偏光子アレイを搭載した偏光分析CMOSイメージセンサを設計・試作した。CMOSプロセスを用いて偏光分析CMOSイメージセンサの新型フローセルについて説明した。モデル反応を用いた基質・生成物の旋光・吸光度計測について示し,光源系をフローセルに組込んだフローセル一体型の小型不斉計測デバイスの設計,試作を実施した。本システムの基本的な計測機能を確認した。

シソーラス用語： 化学プロセス ,  *イメージセンサ ,  *CMOS構造 ,  *旋光分析 ,  マイクロリアクタ ,  偏光子 ,  フローセル ,  *CMOSイメージセンサ ,  *マイクロ化学システム ,  *MOS構造

分類 (1件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K)

引用文献 (6件)：

• (1) T. Tokuda, S. Sato, H. Yamada, K. Sasagawa, and J. Ohta : "Polarisation-analyzing CMOS photosensor with monolithically embedded wire grid polariser", Electronics Lett., Vol.45, No. 4, pp.228-229 (2009)
• (2) T. Tokuda, H. Yamada, K. Sasagawa, and J. Ohta . "Polarization-analyzing CMOS image sensor with monolithically embedded polarizer for microchemistry systems", IEEE Trans. On Biomedical Circuits and Systems, Vol.3, No.5, pp.259-266(2009)
• (3) T. Tokuda, Y. Fujioka, S. Shishido, T. Noda, K. Sasagawa, K. Kiyomi and J.Ohta "Performance improvement of polarization-analyzing CMOS image sensor", Journal of the lnstitute of lmage Information and Television Engineers, Vol.65, No.3; pp.367-370 (2011)(in japanese)徳田崇・藤岡侑司・宍戸三四郎・野田俊彦・笹川清隆・垣内喜代三・ 太田淳:「標準プロセスによる偏光分析CMOSイメージセンサの機 能向上」,映像メディア学会誌,Vol.65, NO.3, pp.367-370(2011)
• (4) H. Matsuoka, T. Noda, K. Sasagawa, T. Tokuda, K. Terao, Y. Nishiyama, K. Kakiuchi, and J. Ohta "Real-time chiral analysis usin gpolarization-analyzing CMOS image sensor", Proc. ITE annual Conf., Vol.35, No.19, pp.21-24 (2011) (in japanese) 松岡均・野田俊彦・笹川清隆・徳田崇・寺尾公維・西山靖浩・垣内 喜代三・太田淳:「偏光分析CMOSイメージセンサを用いたin situ不斉計測への応用」,映像メディア学会年次大会予稿,Vol.35, No.19, pp.21-24(2011)
• (5) S. Shishido, T. Noda, K. Sasagawa, T. Tokuda`and J. Ohta : "Polarization analyzing image sensor with on-chip metal wire grid polarizer in 65-nm standard complementary metal oxide se血conductor process", Jpn. J. Appl. Phys., Vo1. 50, No. 4, pp. 04DL01-1-4 (2011)

タイトルに関連する用語 (4件)： 偏光分析 ,  CMOSイメージセンサ ,  マイクロ化学システム ,  計測