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J-GLOBAL ID：201202281230638787   整理番号：12A1436698

アモルファス酸化ニオブの光吸収特性と分子軌道計算による電子状態評価

著者 (4件)： 桟敷剛 (香川高専) ,  岡野寛 (香川高専) ,  難波徳郎 (岡山大) ,  紅野安彦 (岡山大)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Meeting. Japan Society of Applied Physics (CD-ROM))
巻： 73rd  ページ： ROMBUNNO.11A-PA1-16  発行年： 2012年08月27日 
JST資料番号： Y0055B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *酸化ニオブ ,  *非晶質 ,  スパッタ蒸着 ,  マグネトロンスパッタリング ,  基板 ,  石英 ,  *可視吸収スペクトル ,  *赤外吸収スペクトル ,  電子構造 ,  状態密度 ,  分子軌道 ,  X-α法 ,  分子軌道計算 ,  HOMO ,  SOMO
準シソーラス用語： DV-Xα法

分類 (2件)： 無機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  (BM08063C) ,  無機化合物の可視・紫外スペクトル  (BM08084P)

タイトルに関連する用語 (6件)： アモルファス ,  酸化ニオブ ,  光吸収特性 ,  分子軌道計算 ,  電子状態 ,  評価