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J-GLOBAL ID：201202298516564810   整理番号：12A0586450

エバネッセント波干渉計を用いた金属短針近傍の液晶配向変化の評価

著者 (11件)： 高木興二郎 (新潟大 大学院) ,  大平泰生 (新潟大 大学院) ,  大平泰生 (新潟大 超域研究機構) ,  佐々木修己 (新潟大 大学院) ,  馬場暁 (新潟大 超域研究機構) ,  新保一成 (新潟大 大学院) ,  新保一成 (新潟大 超域研究機構) ,  加藤景三 (新潟大 大学院) ,  加藤景三 (新潟大 超域研究機構) ,  金子双男 (新潟大 大学院) ,  金子双男 (新潟大 超域研究機構)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 59th  ページ： ROMBUNNO.15P-GP4-5  発行年： 2012年02月29日 
JST資料番号： Y0054B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *エバネセント波 ,  *干渉計 ,  *分子配向 ,  屈折率 ,  薄膜 ,  液晶 ,  変化 ,  位相 ,  *液晶配向
準シソーラス用語： 位相変化 ,  液晶薄膜

分類 (1件)： 液晶一般  (BK03010L)

タイトルに関連する用語 (5件)： エバネッセント波 ,  干渉計 ,  近傍 ,  液晶配向 ,  評価