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J-GLOBAL ID：201302211776724730   整理番号：13A0230192

LiCoO₂薄膜電極のin situ XAFS測定による表面被覆効果メカニズムの解明

著者 (9件)： 山本健太郎 (京大 大学院) ,  森伸一郎 (京大 大学院) ,  高松大郊 (京大 大学院) ,  折笠有基 (京大 大学院) ,  谷田肇 (京大) ,  宇留賀朋哉 (JASRI) ,  荒井創 (京大) ,  小久見善八 (京大) ,  内本喜晴 (京大 大学院)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 26th  ページ： 129  発行年： 2013年01月12日 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： コバルト酸塩 ,  リチウム化合物 ,  膜電極 ,  *XAFS ,  被覆層 ,  リチウムイオン電池 ,  その場観察 ,  酸化マグネシウム ,  深さ分析 ,  表面改質 ,  レーザ蒸着 ,  放射光施設 ,  シンクロトロン放射 ,  核間距離 ,  格子歪 ,  パルスレーザ蒸着 ,  *コバルト酸リチウム ,  SPring-8
準シソーラス用語： *薄膜電極 ,  表面修飾

分類 (2件)： X線スペクトル一般  (BM08101P) ,  二次電池  (YB04030K)

タイトルに関連する用語 (3件)： 薄膜電極 ,  XAFS ,  メカニズム