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J-GLOBAL ID：201302236108236947   整理番号：13A1773392

X線構造分析による秩序構造ヘテロ接合太陽電池における埋め込み界面の精密な非破壊特性評価

Precise and Non-destructive Characterization of ′Buried′ Interface in Ordered Heterojunction Organic Photovoltaics by X-ray Structure Analyses

著者 (12件)： SHINOHARA Takamichi (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  HOSHINO Taiki (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  HOSHINO Taiki (JST Takahara Soft Interface Project, Fukuoka, JPN) ,  ISHIGE Ryohei (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  HIGAKI Yuji (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  OKAMOTO Yasushi (DENSO Corp.) ,  AOKI Takashi (DENSO Corp.) ,  MASUNAGA Hiroyasu (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI)/SPring-8) ,  OGAWA Hiroki (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI)/SPring-8) ,  TAKAHARA Atushi (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  TAKAHARA Atushi (JST Takahara Soft Interface Project, Fukuoka, JPN) ,  TAKAHARA Atushi (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI)/SPring-8)
資料名： Abstract. JSAP-MRS Joint Symposia (CD-ROM)  (Abstract. JSAP-MRS Joint Symposia (CD-ROM))
ページ： ROMBUNNO.17P-PM2-14  発行年： 2013年 
JST資料番号： M20130006  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *太陽電池 ,  埋込み【挿入】 ,  *ナノ構造 ,  表面構造 ,  *ポリヘキシルチオフェン ,  フラーレン ,  *小角X線散乱 ,  すれすれ入射 ,  *X線回折 ,  有機半導体 ,  高分子薄膜 ,  スピンコーティング ,  ヘテロ接合 ,  有機太陽電池 ,  表面ナノ構造 ,  PCBM ,  すれすれ入射X線回折 ,  ヘテロ接合太陽電池 ,  斜入射小角X線散乱 ,  構造
準シソーラス用語： すれすれ入射小角X線散乱

分類 (3件)： 半導体の表面構造  (BK15030A) ,  太陽電池  (NC03084O) ,  X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (6件)： X線構造分析 ,  秩序構造 ,  ヘテロ接合太陽電池 ,  埋め込み ,  界面 ,  特性評価