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J-GLOBAL ID:201402261158560038   整理番号:14A0269904

シリコン単一正孔トランジスタのカスピダルブロッケード領域での輸送挙動と機構

Transport behaviors and mechanisms in cuspidal blockade region for silicon single-hole transistor
著者 (3件):
資料名:
巻: 14  号:ページ: 428-432  発行年: 2014年03月 
JST資料番号: W1579A  ISSN: 1567-1739  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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Si単一正孔トランジスタは異常に伸びたカスピダルブロッケード領域を呈するが,それはCoulombブロッケードダイアグラムにおいてゲート対ドレインバイアス電圧領域から45°傾いた方向に延びている。その成因は,極めて小さいSi量子ドット(QD)が全周ゲート(GAA)積層中に生じることである。即ち,2nmサイズのSi QDからの大きな一電子追加エネルギー(=447meV)が室温での明確なCoulombブロッケード事象を可能とし,GAA積層からの大きな電圧利得が,当初のCoulombブロッケード状態近傍のバイアス点で,Coulombブロッケードエネルギーの繰込みを介してブロッケード領域のカスピダル延長を可能とする。Copyright 2014 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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トランジスタ 
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