特許
J-GLOBAL ID:201403057167613974
計測装置、方法、及びプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
酒井 宏明
, 宮田 英毅
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-148658
公開番号(公開出願番号):特開2014-010111
出願日: 2012年07月02日
公開日(公表日): 2014年01月20日
要約:
【課題】計測対象の物体の未計測部分を減少させつつ、計測精度を高めることができる計測装置、方法、及びプログラムを提供する。【解決手段】実施形態の計測装置は、生成部と、更新部と、算出部とを、備える。生成部は、計測対象の物体を含む空間を観測する観測部の第1位置、第1向き、及び観測の理論精度を表す誤差モデル、並びに前記観測部により観測された前記物体の3次元形状データを生成する。更新部は、前記第1位置及び前記3次元形状データを用いて、前記空間内の各座標における前記物体の存在の確からしさを表す空間情報を更新する。算出部は、前記誤差モデル及び前記空間情報を用いて、前記空間内の探索領域の第2位置及び第2向きの計測品質増加量を算出し、算出した前記計測品質増加量が所定条件を満たす第3位置及び第3向きを前記観測部の新たな位置及び向きに設定する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
計測対象の物体を含む空間を観測する観測部の第1位置、第1向き、及び観測の理論精度を表す誤差モデル、並びに前記観測部により観測された前記物体の3次元形状データを生成する生成部と、
前記第1位置及び前記3次元形状データを用いて、前記空間内の各座標における前記物体の存在の確からしさを表す空間情報を更新する更新部と、
前記誤差モデル及び前記空間情報を用いて、前記空間内の探索領域の第2位置及び第2向きの計測品質増加量を算出し、算出した前記計測品質増加量が所定条件を満たす第3位置及び第3向きを前記観測部の新たな位置及び向きに設定する算出部と、
を備える計測装置。
IPC (5件):
G01B 11/24
, G06T 1/00
, G01B 11/00
, G01B 11/26
, G06T 19/00
FI (6件):
G01B11/24 A
, G06T1/00 315
, G01B11/00 A
, G01B11/26 H
, G06T19/00 A
, G01B11/24 K
Fターム (33件):
2F065AA04
, 2F065AA37
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065DD03
, 2F065FF05
, 2F065FF11
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065QQ00
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ26
, 2F065QQ29
, 2F065QQ42
, 2F065UU05
, 5B050BA04
, 5B050BA09
, 5B050EA07
, 5B050EA14
, 5B050EA18
, 5B050EA19
, 5B050EA27
, 5B050FA02
, 5B050FA06
, 5B057AA20
, 5B057DA07
, 5B057DA20
, 5B057DB03
, 5B057DC08
, 5B057DC09
, 5B057DC30
, 5B057DC32
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