特許

J-GLOBAL ID：201403068068304511

計測装置

発明者： 伊藤 聡 ,  関 晃仁 ,  山崎 雅起 ,  伊藤 勇太 ,  内山 英昭
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (2件)： 酒井 宏明 ,  宮田 英毅
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-062546
公開番号（公開出願番号）：特開2014-185996
出願日： 2013年03月25日
公開日（公表日）： 2014年10月02日
要約：

【課題】対象物の3次元データの実世界における寸法を決定するためのスケールを精度よく求めることができる計測装置を提供する。【解決手段】実施形態の計測装置は、撮像部と、距離計測部と、位置計測部と、第1算出部と、第2算出部と、推定部と、を備える。撮像部は、対象物を複数の位置で撮像し、複数の画像を得る。距離計測部は、前記対象物までの距離を前記複数の位置で計測し、複数の距離情報を得る。位置計測部は、前記複数の位置を計測し、複数の位置情報を得る。第1算出部は、前記複数の画像を用いて、前記対象物の3次元データを算出する。第2算出部は、前記複数の距離情報及び前記複数の位置情報それぞれの信頼度を算出する。推定部は、前記複数の距離情報及び前記複数の位置情報のうち、前記信頼度が所定値よりも大きい距離情報及び位置情報を用いて、前記3次元データのスケールを推定する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

対象物を複数の位置で撮像し、複数の画像を得る撮像部と、 前記対象物までの距離を前記複数の位置で計測し、複数の距離情報を得る距離計測部と、 前記複数の位置を計測し、複数の位置情報を得る位置計測部と、 前記複数の画像を用いて、前記対象物の3次元データを算出する第1算出部と、 前記複数の距離情報及び前記複数の位置情報それぞれの信頼度を算出する第2算出部と、 前記複数の距離情報及び前記複数の位置情報のうち、前記信頼度が所定値よりも大きい距離情報及び位置情報を用いて、前記3次元データのスケールを推定する推定部と、 を備える計測装置。

IPC (5件)：

G01B 11/02 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/26 ,  G01C 11/06 ,  G01C 15/00

FI (5件)：

G01B11/02 H ,  G01B11/00 H ,  G01B11/26 H ,  G01C11/06 ,  G01C15/00 102C

Fターム (14件)：

2F065AA04 ,  2F065AA09 ,  2F065AA21 ,  2F065AA53 ,  2F065EE00 ,  2F065FF04 ,  2F065FF31 ,  2F065FF41 ,  2F065FF67 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ41