特許
J-GLOBAL ID:201403081679235864

計測装置、方法及びプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 酒井 宏明 ,  宮田 英毅
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-062977
公開番号(公開出願番号):特開2014-186010
出願日: 2013年03月25日
公開日(公表日): 2014年10月02日
要約:
【課題】反射特性に欠ける部分が含まれる計測対象についても3次元形状を計測可能な計測装置、方法及びプログラムを提供する。【解決手段】実施形態の計測装置は、投影部と、撮影部と、第1算出部と、を備える。投影部は、周期性のある第1パタンと第1パタンの周期を特定するための第1模様で構成される第2パタンとを重畳した第1重畳パタンを対象に投影する。撮影部は、第1重畳パタンが投影されている対象を撮影し、画像を得る。第1算出部は、画像内の第1重畳パタンの撮像部が撮像した第1模様と第1重畳パタンの投影部が投影した第1模様とのマッチングを行い、画像内の第1重畳パタンである第2重畳パタンと第1重畳パタンとの対応を算出する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
周期性のある第1パタンと前記第1パタンの周期を特定するための第1模様で構成される第2パタンとを重畳した第1重畳パタンを対象に投影する投影部と、 前記第1重畳パタンが投影されている前記対象を撮影し、画像を得る撮影部と、 前記画像内の前記第1重畳パタンの前記撮像部が撮像した前記第1模様と前記第1重畳パタンの前記投影部が投影した前記第1模様とのマッチングを行い、前記画像内の前記第1重畳パタンである第2重畳パタンと前記第1重畳パタンとの対応を算出する第1算出部と、 を備える計測装置。
IPC (1件):
G01B 11/25
FI (1件):
G01B11/25 H
Fターム (22件):
2F065AA04 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065GG03 ,  2F065GG04 ,  2F065GG23 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065NN06 ,  2F065PP23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ38 ,  2F065SS06 ,  2F065SS13

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