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J-GLOBAL ID：201602228341659779   整理番号：16A0675003

重い電子系化合物CeCoIn₅エピタキシャル薄膜のSTM/STS測定

著者 (8件)： 鳥井陽平 (京大) ,  花岡洋祐 (京大) ,  綿重達哉 (京大) ,  成塚政裕 (京大) ,  笠原成 (京大) ,  笠原裕一 (京大) ,  松田祐司 (京大) ,  寺嶋孝仁 (京大 低温物質科学研究セ)
資料名： 京都大学物性科学センター誌  (LTMセンター誌)
号： 28  ページ： 45  発行年： 2016年06月 
JST資料番号： L7590A  ISSN： 2432-0587  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *走査型トンネル顕微鏡 ,  *薄膜 ,  エピタクシー ,  *重いFermi系 ,  *電子系 ,  *セリウム合金 ,  インジウム含有合金 ,  コバルト含有合金 ,  層状化合物 ,  表面構造 ,  表面粗さ ,  *エネルギーギャップ ,  *超伝導体 ,  *エピタキシャル膜 ,  *重い電子系 ,  *超伝導ギャップ ,  構造

分類 (2件)： その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A) ,  金属系超伝導体の物性  (BM04022R)

タイトルに関連する用語 (5件)： 重い電子系 ,  エピタキシャル ,  薄膜 ,  STM ,  STS